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蘇州特斯特電子科技有限公司
主營：失效分析設備,檢測服務,檢測儀器
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| 先生： |
芯片失效分析步驟:
1、非破壞性分析：主要是超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）--看有沒delamination，xray--看內部結構，等等；
2、電測：主要工具，紅外顯微鏡廠家，萬用表，紅外顯微鏡價格，示波器， tek370a
3、破壞性分析：機械decap，化學 decap芯片開封機
4、半導體器件芯片失效分析 芯片內部分析，孔洞氣泡失效分析。
蘇州特斯特電子科技有限公司，紅外顯微鏡，主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務，產品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。
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第5年
