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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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英飛思XRF鍍層測厚儀優勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域，實現高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統
高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。
>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>電路板和柔性PCB上的涂層
>插頭和電觸點的接觸面
>電鍍液分析
>鍍層，如金基上的銠材料分析
>電鍍液分析
>分析電子和半導體行業的功能涂層
>分析硬質材料涂層，例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
溫馨提示：以上是關于開封EDX-8000TPlus鍍層測厚儀-英飛思科學儀器公司的詳細介紹，產品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產品信息感興趣可以聯系供應商或者讓供應商主動聯系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關的產品！
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第5年
