射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾性試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

評(píng)定電子通訊設(shè)備或系統(tǒng)受到電磁輻射騷擾時(shí)的性能。

試驗(yàn)設(shè)備

全電波暗室

功率放大器

射頻信號(hào)發(fā)生器

抗擾度天線

場(chǎng)強(qiáng)探頭

配套計(jì)算機(jī)及軟件

試驗(yàn)等級(jí)（嚴(yán)酷度等級(jí)）

干擾電場(chǎng)強(qiáng)度的波形 (1kHz正弦波80%調(diào)幅 )

均勻域校準(zhǔn)

試驗(yàn)的實(shí)施

用1kHz的正弦波對(duì)信號(hào)進(jìn)行80％的幅度調(diào)制后， 在80～1000MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃頻測(cè)量，泰州電磁兼容，掃描步長(zhǎng)為前一頻率的1 ％，這一部分都通過(guò)計(jì)算機(jī)及軟件控制實(shí)現(xiàn)；

每一頻點(diǎn)上掃描停留時(shí)間不應(yīng)短于受試設(shè)備操作和反應(yīng)所需的時(shí)間，一般設(shè)為1-3秒鐘，如果對(duì)產(chǎn)品有特別要求，可以延長(zhǎng)停留時(shí)間；

受試設(shè)備應(yīng)在發(fā)射天線的水平和垂直極化下進(jìn)行試驗(yàn) 。

試驗(yàn)結(jié)果判定

對(duì)于情形a，判為合格。

對(duì)于情 形b、c、d，判為不合格。

輻射騷擾測(cè)量曲線

測(cè)量判定方式

由于準(zhǔn)峰值測(cè)量占用的時(shí)間比較長(zhǎng)，測(cè)試的效率比較低，作為改進(jìn)，電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)用中常用峰值檢波作第—輪測(cè)試，電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)，因?yàn)槿N檢波當(dāng)中，用峰值檢波得到的測(cè)值應(yīng)當(dāng)zui高，如果首輪測(cè)值比標(biāo)準(zhǔn)給定的準(zhǔn)峰值和平均值都要來(lái)得低的話，則以后的試驗(yàn)不用進(jìn)行，便能判定試驗(yàn)己經(jīng)通過(guò)。 如果峰值測(cè)試中有部分測(cè)值高于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定準(zhǔn)峰值和平均值，則就取超過(guò)部分的頻段補(bǔ)做準(zhǔn)峰值和平均值的測(cè)試，即使這樣，電磁兼容原理技術(shù)及應(yīng)用，整個(gè)測(cè)試時(shí)間也短于全部用準(zhǔn)峰值和平均值檢波的測(cè)試。

峰值與準(zhǔn)峰值檢波比較

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)放電及人或物體對(duì)鄰近物體的放電，以考察被試設(shè)備抵抗靜電放電干擾能力。前者是通過(guò)導(dǎo)體直接耦合，屬于直接放電影響。 后者是通過(guò)空間輻射耦合，屬于間接放電影響。

試驗(yàn)設(shè)備

靜電脈沖發(fā)生器

試驗(yàn)等級(jí)（嚴(yán)酷度等級(jí)）

試驗(yàn)原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數(shù)

臺(tái)式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖

立式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖

試驗(yàn)環(huán)境條件

環(huán)境溫度：15 ~ 35 ℃

相對(duì)濕度：30 ~ 60 %

大氣壓力：86~106 kPa

試驗(yàn)的實(shí)施

接觸放電使用尖形放電電極，空氣放電使用圓形放電電極；

優(yōu)先采用接觸放電；

直接放電試驗(yàn)，放電電極直接對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行放電試驗(yàn)。試驗(yàn)對(duì)象包括用戶在使用中可能觸及到的任何地方以及在帶電維護(hù)和校正時(shí)可能觸及的地方。如：金屬簧i片、機(jī)殼、機(jī)框、按 鍵、螺絲、指示燈、開關(guān)等；

間接放電試驗(yàn)可對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電；

試驗(yàn)速率 1 次/s，每個(gè)放電點(diǎn)至少在正負(fù)極性各放電10 次。

試驗(yàn)結(jié)果判定

a. 在試驗(yàn)過(guò)程中，設(shè)備的工作完全正常 設(shè)備的工作完全正常。

b. 在試驗(yàn)中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低，但撤消干擾后，設(shè)備的功能可

以自動(dòng)恢復(fù)正常。

c. 在試驗(yàn)中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低，但干擾撤消后，設(shè)備的功能需

要人工復(fù)位后方能恢復(fù)。

d. 在試驗(yàn)中，受干擾的設(shè)備產(chǎn)生了不可逆轉(zhuǎn)的損傷，包括元器件的損傷 、軟件或數(shù)據(jù)

丟失等。

對(duì)于情形a、b，判為合格。

對(duì)于情形c、d，判為不合格。

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