光學干涉厚度測試儀支持數據輸出。這種測試儀主要用于測量物體的厚度，其工作原理基于光入射不同界面發生反射和透射而產生干涉條紋的原理。它不僅可以實時掃描測量薄膜的厚度，還能在線反映生產過程中薄膜的厚度趨勢，幫助調節生產設備，實現更穩定一致的生產。

在數據輸出方面，光學干涉厚度測試儀具有高度的靈活性。它可以輸出橫向縱向趨勢圖、最大值、最小值、極差、CPK等統計參數，這使得用戶能夠直觀地了解測量數據的變化趨勢和統計特性。這些數據輸出功能在質量控制、生產監控以及研發過程中都具有重要的應用價值。

此外，光學干涉厚度測試儀的數據輸出方式通?？梢酝ㄟ^計算機接口或專用軟件實現。用戶可以將測試儀與計算機連接，通過軟件界面查看、分析和保存測量數據。這種方式不僅方便了數據的處理和管理，也提高了工作效率。

總的來說，光學干涉厚度測試儀支持數據輸出，并且具有多種輸出方式和靈活的應用場景。這使得它成為光學膜涂布、太陽能晶圓、超薄玻璃、膠帶、MYLAR膜等行業的理想測量工具，有助于提升產品質量和生產效率。