膜厚測量儀的磁感應(yīng)測量原理主要基于磁通量與磁阻的變化關(guān)系來測定覆層厚度。當(dāng)測量儀的測頭接近被測物體時，測頭會發(fā)出磁場，磁場會經(jīng)過非鐵磁覆層并流入鐵磁基體。在此過程中，磁通量的大小會發(fā)生變化，而這種變化與被測覆層的厚度密切相關(guān)。具體來說，覆層越厚，磁通量越小，因為較厚的覆層會對磁場產(chǎn)生更大的阻礙作用，導(dǎo)致磁通量減小。此外，測量儀還可以通過測定與磁通量對應(yīng)的磁阻大小來表示覆層厚度。磁阻是描述磁場在介質(zhì)中傳播時所受阻礙程度的物理量，覆層越厚，磁阻越大。因此，通過測量磁阻的大小，也可以間接地得到覆層的厚度信息。這種磁感應(yīng)測量原理使得膜厚測量儀能夠精確地測定導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。同時，由于該方法不依賴于光學(xué)干涉或機械接觸，因此適用于各種不同類型的材料和薄膜，具有廣泛的應(yīng)用前景。在實際應(yīng)用中，膜厚測量儀的磁感應(yīng)測量原理為工業(yè)生產(chǎn)和科研實驗提供了方便快捷的測量手段，有助于確保產(chǎn)品質(zhì)量和推動科技進步。