硅片反射率測(cè)量?jī)x是一種專(zhuān)用于半導(dǎo)體制造、光伏研發(fā)及材料分析的高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，其核心功能是測(cè)量硅片表面在不同波長(zhǎng)下的反射率特性，以評(píng)估材料的光學(xué)性能、表面質(zhì)量及工藝適配性。以下是其主要特點(diǎn)：1. 高.. 全文

用透光率測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量的時(shí)候，先裝上樣品，按測(cè)試鈕，指示燈轉(zhuǎn)為紅光，不久就在指示屏上顯示出透光率數(shù)值及霧度數(shù)值，前者顯示單位為0.1%，后者為0.01%。此時(shí)，指示燈轉(zhuǎn)為綠光，需要進(jìn)行復(fù)測(cè)時(shí)，可不拿下樣.. 全文

透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng)在測(cè)試塑膜樣品時(shí)，只要將薄膜夾于磁性?shī)A具之間稍加拉平，然后即可裝置于樣品臺(tái)上測(cè)試，放置夾具時(shí)應(yīng)注意薄膜一面貼緊積分球。 全文

手機(jī)IR孔透光率檢測(cè)儀是一種用于測(cè)量手機(jī)IR孔透光率的儀器。它可以檢測(cè)IR孔周?chē)耐腹饴剩源_保IR孔的質(zhì)量和使用效果。檢測(cè)儀通常使用光譜儀或光電傳感器來(lái)測(cè)量IR孔周?chē)墓鈴?qiáng)度，并將其轉(zhuǎn)換為透光率數(shù)據(jù).. 全文